濰坊結(jié)構(gòu)分析X射線管廠家供應(yīng)
發(fā)布時(shí)間：2024-12-29 01:55:23
濰坊結(jié)構(gòu)分析X射線管廠家供應(yīng)
輻射，分為電離輻射和非電離輻射，區(qū)分標(biāo)準(zhǔn)就是輻射能量是否大到引起物質(zhì)電離。非電離輻射，就是我們?nèi)庋劭吹靡?jiàn)的光、以及看不見(jiàn)的紫外光、紅外光、微波、無(wú)線電波等電磁波，特點(diǎn)是波長(zhǎng)，能量低，不會(huì)引起物質(zhì)電離。電離輻射，包括α射線（α粒子）、β射線（β粒子）、中子等粒子流與γ射線、X射線等電磁波。電離輻射的能量如果足夠大，就可以轟擊DNA，造成化學(xué)鍵的斷裂，引起基因損傷、突變。X射線安檢是通過(guò)不同的安檢X射線管規(guī)格產(chǎn)品，配合使用，達(dá)到想要的效果。
濰坊結(jié)構(gòu)分析X射線管廠家供應(yīng)
X-Ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過(guò)程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式檢測(cè)的位置，利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域。
濰坊結(jié)構(gòu)分析X射線管廠家供應(yīng)
結(jié)構(gòu)分析X射線管高穩(wěn)定度X射線源提供測(cè)量所需的X射線,改變X射線管陽(yáng)極靶材質(zhì)可改變X射線的波長(zhǎng),調(diào)節(jié)陽(yáng)極電壓可控制X射線源的強(qiáng)度。樣品及樣品位置取向的調(diào)整機(jī)構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。射線檢測(cè)器檢測(cè)衍射強(qiáng)度或同時(shí)檢測(cè)衍射方向,通過(guò)儀器測(cè)量記錄系統(tǒng)或計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
濰坊結(jié)構(gòu)分析X射線管廠家供應(yīng)
熒光分析曲線斜率的大小與基體的質(zhì)量吸收系數(shù)有關(guān)，也就是說(shuō)，質(zhì)量吸收系數(shù)越大，斜率越小。同時(shí)斜率與特征譜線的波長(zhǎng)有關(guān)。小于10nm的短波范圍內(nèi)，斜率居中大于30nm的長(zhǎng)波范圍內(nèi)，斜率低在上述兩者之間時(shí)斜率低，背景也低，因此分析方法靈敏。若校正曲線通過(guò)零點(diǎn)，原則上只要一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣便可確定校正曲線。對(duì)于濃度范圍很大的試樣，則至少需要三個(gè)以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
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熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測(cè)定痕量元素時(shí)，若背景能準(zhǔn)確扣除，也可強(qiáng)制通過(guò)零點(diǎn)，以便獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。其數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距，D的單位是濃度，E的倒數(shù)是方法的靈敏度C,是待測(cè)元素i的濃度i,是待測(cè)元素的強(qiáng)度，校正曲線以直線表示為好，也可用二次曲線，只是用二次曲線需要較多的標(biāo)樣，且可能存在危險(xiǎn)，故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時(shí)，我們通常希望曲線的斜率陡一些，這樣在濃度變化很小時(shí)，分析線強(qiáng)度變化很大。
濰坊結(jié)構(gòu)分析X射線管廠家供應(yīng)
由于來(lái)自X光管的X射線不僅照射到分析樣品上，也會(huì)照射到樣品盒及樣品罩上。而產(chǎn)生來(lái)自樣品盒或罩上的不需要的熒光射線，從而影響分析精度，因此使用了光闌系統(tǒng)來(lái)保證只允許來(lái)自分析樣品的熒光X射線進(jìn)入計(jì)數(shù)器。來(lái)自樣品的熒光X射線和散射線都不是單一方向的，入射狹縫裝在樣品和分光晶體之間，它只允許指向分光晶體方向的熒光X射線通過(guò)，而吸收其它方向的射線，從而提高了光譜分辨率。