肇慶熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
發(fā)布時(shí)間：2024-11-28 02:05:32
肇慶熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
X射線安檢儀是采用X射線掃描成像技術(shù)對(duì)行李進(jìn)行安全檢測(cè)的電子設(shè)備，由X射線發(fā)生器、X射線探測(cè)器、圖像處理系統(tǒng)等部分組成，根據(jù)掃描成像判斷物品的安全性。X射線安檢儀屬于低危險(xiǎn)射線裝置，輻射量遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于醫(yī)學(xué)X光機(jī)。通過(guò)安檢X射線管發(fā)射出的射線，對(duì)過(guò)安檢的物品進(jìn)行掃描，排查有危險(xiǎn)的物品。
肇慶熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
能量色散光譜儀定量分析條件的選擇與波長(zhǎng)色散光譜儀定量分析條件的選擇相比較，相對(duì)于所用儀器來(lái)說(shuō)要簡(jiǎn)單一些，但能量色散光譜儀種類繁多，如有用二次靶的，也有用偏振光的，它們各有特色，因此應(yīng)在熟悉所用儀器性能的條件下，就其特性選擇適合的分析條件，以滿足分析要求。它的條件選擇主要有提供給X射線管的管壓和管電流、譜線、濾光片的選擇和測(cè)定時(shí)間。
肇慶熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
熒光分析X射線管在X射線熒光光譜測(cè)定痕量元素時(shí)，若背景能準(zhǔn)確扣除，也可強(qiáng)制通過(guò)零點(diǎn)，以便獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。其數(shù)學(xué)表達(dá)式表示為Ci=EiLi+Di式中E和D分別代表曲線的斜率和截距，D的單位是濃度，E的倒數(shù)是方法的靈敏度C,是待測(cè)元素i的濃度i,是待測(cè)元素的強(qiáng)度，校正曲線以直線表示為好，也可用二次曲線，只是用二次曲線需要較多的標(biāo)樣，且可能存在危險(xiǎn)，故建議盡可能少用。使用X射線熒光光譜時(shí)，我們通常希望曲線的斜率陡一些，這樣在濃度變化很小時(shí)，分析線強(qiáng)度變化很大。
肇慶熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
在波長(zhǎng)色散X射線光譜儀中，由于使用分光晶體，是的待測(cè)元素的分析譜線可以較好分離，故通過(guò)使用分辨率較低的流氣式正比計(jì)數(shù)器和NaI閃爍技術(shù)器作為X射線探測(cè)器。分光晶體與低分辨率探測(cè)器的結(jié)合應(yīng)用，使得波長(zhǎng)色散X射線光譜儀的整體分辨率要優(yōu)于使用常規(guī)半導(dǎo)體Si探測(cè)器的能量色散X射線光譜儀。
肇慶熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
X射線檢測(cè)可以顯示缺陷的形狀、平面位置、性質(zhì)和大小,底片可以長(zhǎng)期保留。對(duì)于如氣孔、夾渣、縮孔等體積性缺陷,在X射線透照方向有較明顯的厚度差,即使很小的缺陷也較容易檢查出來(lái)。而對(duì)于如裂紋那樣的面狀缺陷,只有與裂紋方向平行的X射線照射時(shí),才能夠檢查出來(lái),而同裂紋面幾乎垂直的射線照射時(shí),就很難查出。這是因?yàn)樵谡丈浞较驇缀鯖](méi)有厚度差的緣故。
肇慶熒光分析X射線管產(chǎn)地貨源公司
X射線管是X射線機(jī)中的主要元件，是一個(gè)高真空器件?，F(xiàn)在所使用的熱陰極電子X(jué)射線管，其基本原理是利用陰極的熱發(fā)射電子束在高壓電場(chǎng)的作用下高速飛向陽(yáng)極靶面，靶面受電子轟擊，產(chǎn)生X線。醫(yī)用X線管，按用途可分為診斷用X射線管和治療用x射線管。兩種X射線管的原理基本一致，易震裂，存放時(shí)間較長(zhǎng)時(shí)，各電極可能有自然出氣現(xiàn)象，使用前須對(duì)它進(jìn)行仔細(xì)的檢查和實(shí)驗(yàn)。