煙臺(tái)X射線管哪個(gè)品牌好
發(fā)布時(shí)間:2024-12-01 02:04:56
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譜線有Ka、Kb、Lb、La和Ma.可供選擇,通常原子序數(shù)小于42的元素用K系線,大于42的元素用L系線,有時(shí)亦可選M系線。為了便于獲取待測(cè)元素的凈強(qiáng)度,對(duì)使用Si-PIN和Si(Li)探測(cè)器的譜儀,在解譜時(shí)不僅考慮待測(cè)元素,還應(yīng)考慮與待測(cè)元素譜相近的基體中其他元素,特別是重元素L和M系線的干擾。對(duì)于低分辨率譜儀如使用封閉式正比計(jì)數(shù)管的譜儀,通常測(cè)定純?cè)刈V,并以譜的半高寬左右兩側(cè)的能量作為感興趣區(qū)的起點(diǎn)和終點(diǎn)。

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由于來(lái)自X光管的X射線不僅照射到分析樣品上,也會(huì)照射到樣品盒及樣品罩上。而產(chǎn)生來(lái)自樣品盒或罩上的不需要的熒光射線,從而影響分析精度,因此使用了光闌系統(tǒng)來(lái)保證只允許來(lái)自分析樣品的熒光X射線進(jìn)入計(jì)數(shù)器。來(lái)自樣品的熒光X射線和散射線都不是單一方向的,入射狹縫裝在樣品和分光晶體之間,它只允許指向分光晶體方向的熒光X射線通過(guò),而吸收其它方向的射線,從而提高了光譜分辨率。

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X-Ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過(guò)程中,因電子突然減速,其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無(wú)法以外觀方式檢測(cè)的位置,利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化,產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像即可顯示出待測(cè)物之內(nèi)部結(jié)構(gòu),進(jìn)而可在不破壞待測(cè)物的情況下觀察待測(cè)物內(nèi)部有問(wèn)題的區(qū)域。

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樣品室連接樣品進(jìn)給器和分析室,與二者一起組成真空腔。樣品在樣品室里完成樣品的升舉、下降、樣品交換和自旋。濾片的作用是消除可能提高背景或?qū)δ承┰禺a(chǎn)生迭譜干擾的特征譜線,從而提高對(duì)這些元素分析的靈敏度。濾波片采用K吸收緣介于元素的Kα和Kβ的波長(zhǎng)之間的材料制成。

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電磁輻射激發(fā)X熒光分析,簡(jiǎn)稱EDXRF。電磁輻射激發(fā)一般用X射線管或X射線熒光分析Fe、238Pu、X射線熒光分析Cd、241、X射線熒光分析Co等放射性同位素作激發(fā)源。這時(shí)它的探測(cè)極限雖不及PIXE,但制樣簡(jiǎn)便,常??梢灾苯臃治鲈紭悠?,而且既能分析低含量樣品,又能分析高含量樣品,因此應(yīng)用更為廣泛。